evan.liu f34efe9070 apptest 删除, 功能合入 disptest (APP V1.00.41)
- disptest 合并两段: 快速位检查(0-9/多位数/999.9/36.5F-C) + 全量程扫测(0.1-999.0 C+F)
- 删除 apptest 命令与 CmdAppTest
- 说明书 §8 同步(删除 apptest, 更新 disptest), 补 §4.1 三态驱动防鬼影说明
- 仅 APP 改动, Boot 不动 (仍 V1.00.07)
- docs/开发日志.md: 新增 §70
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